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    X荧光光谱分析测定时须小心的样品
    2013-05-17 16:35:17

          

                   

         

    X射线照射时,如果样品成分产生挥发,会使仪器内部被污染,不仅会影响测定,还会使仪器的性能下降。所以,要尽可能避免分析强酸、强碱及低温下易升华的样品。另外,含有ClPS高的粉末、橡胶等样品,经长时间测定后,因样品发热会造成飞散现象(因为化合物的种类不同,差异很大。比如NaCl经长时间测 定也不会变化,而测定氯乙烯中的氯时,强度会降低,说明有氯挥发掉),特别是在使用高功率X射线光管的仪器时,要注意以下几点:1、避免长时间测定;2、 降低管电流;3、用高分子膜将样品表面保护起来

       
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